Cevherin ve cevher işleme konsantresinin ekonomik değerlendirmesi için gerekli bilgileri elde etmek amacıyla işlenen hammaddelerin normal numune alınması ve analizi yapılır. Ayrıca modern tesisler, işleme sırasında malzemelerin akış içi analizini gerçekleştiren ve mümkün olan en zengin konsantreyi en düşük işletme maliyetiyle üretmek için her aşamada ayarlamalar yapan tam otomatik kontrol sistemlerine sahiptir.

örnekleme Numune alma, analiz için belirli malzemelerin bir kısmının alınması anlamına gelir. Bu işlem elle veya makine ile yapılır. Manuel numune alma genellikle pahalı, yavaş ve hatalı olduğundan, genellikle yalnızca malzemenin mekanik numune almaya uygun olmadığı (örneğin, sümüksü cevher) veya makinelerin bulunmadığı veya kurulumunun çok pahalı olduğu durumlarda kullanılır. Günümüzde kürekler, tüp örnekleyiciler ve otomatik örnekleyiciler dahil olmak üzere birçok farklı örnekleme cihazı mevcuttur. Bu numune alma makinelerinin partinin tamamını doğru bir şekilde temsil edebilmesi için numune miktarı, toplam numune sayısı ve alınan numunelerin türü belirleyici öneme sahiptir. Kimyasal analiz ve analiz 16. yüzyıldan önce bile, modern zamanlarda kullanılanlardan maddi olarak farklı olmayan yöntemler kullanılarak cevherlerin kapsamlı tahlil (değer ölçümü) şemaları biliniyordu. Günümüzde mineral ve cevherlerdeki elementlerin miktarını belirlemek ve tahmin etmek için geleneksel kimyasal analiz yöntemleri kullanılmasına rağmen, bu yöntemler yavaştır ve özellikle düşük konsantrasyonlarda yeterince doğru değildir. Sonuç olarak, daha fazla verimlilik elde etmek için gelişmiş analitik araçlar kullanılır. Cevher işleme spektroskopisinde, biri analiz edilen malzemeden yapılmış olan bir çift elektrot arasında bir elektrik deşarjı oluşturulur. Elektrik deşarjı numunenin bir kısmını buharlaştırır ve numunedeki elementleri karakteristik spektrumları yaymak üzere harekete geçirir. Emisyon spektrumunun dalga boyunu ve yoğunluğunu tespit etmek ve ölçmek, numunedeki elementlerin kimliğini ve konsantrasyonunu gösterir. X-ışını floresans spektroskopisinde, X-ışınları ile bombardıman edilen bir numune, elemanlarının karakteristik dalga boylarında floresan X-ışınları yayar. Yayılan X-ışını miktarı, numunedeki bireysel elementlerin konsantrasyonuyla ilgilidir. Bu yöntemin hassasiyeti ve doğruluğu atom numarası düşük elementler (bor ve berilyum gibi çekirdekteki düşük protonlar) için zayıftır ancak cüruflar, cevherler, sinterler ve peletler için uygundur.

Cevher hazırlama ve işleme yöntemleri hakkında yorum yapın veya sorunuzu sorun.